Satoko Toyama




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mail: toyama     sigma.t.u-tokyo.ac.jp(please insert @ instead of space)



Contents

  • Profile
  • Research
  • Publication list








    • Profile



  • 2014 - 2018 B.E. The University of Tokyo
  • 2018 - 2023 Materials Education program for the future leaders in Research, and Technology (MERIT)
  • 2018 - 2020 M.S. The University of Tokyo
  • 2020 - 2023 Ph.D. The University of Tokyo
  • 2020 - 2023 Research fellow, JSPS research fellowship for young scientists (DC1)
  • 2023- Project Assistant Professor




    • Research Topics


    微分位相コントラストSTEMを用いた高分解能電磁場観察定量化手法の開発

    走査透過型電子顕微鏡法（STEM）の手法の一つである微分位相コントラスト（DPC）STEMを用いた電磁場直接観察手法に関する研究を行なっています． 現代のデバイスは，小型化，高速化を求めて極めて微細な電磁場構造が要求されています．しかしそのような電磁場分布を高分解能で直接的に観察する手法は未だ確立されておりません． 本研究ではSTEMの明視野に特殊な検出器を用いることで，透過電子が材料内部の局所電場によって偏向される現象を捉え，材料内部電場像を定量的に取得することを目的としています． 現在，半導体p-n接合，GaN系半導体ヘテロ界面，酸化物粒界，磁気メモリデバイスなどを対象として実験を行なっています．

    Publication list


    Papers

    1. S. Toyama, T. Seki, Y. Kanitani, Y. Kudo, S. Tomiya, Y. Ikuhara, N. Shibata,
      “Real-space observation of a two-dimensional electron gas at semiconductor heterointerfaces",
      Nature Nanotechnology (2023)

    2. T. Seki, K. Khare, Y. O. Murakami, S. Toyama, G. Sanchez-Santolino, H. Sasaki, S. D. Findlay, T. C. Petersen, Y. Ikuhara, N. Shibata,
      “Quantitative electric field mapping in semiconductor heterostructures via tilt-scan averaged DPC STEM",
      Ultramicroscopy 240 113580 (2022)

    3. S. Toyama, T. Seki, Y. Kanitani, Y. Kudo, S. Tomiya, Y. Ikuhara, N. Shibata,
      “Quantitative electric field mapping in semiconductor heterostructures via tilt-scan averaged DPC STEM",
      Ultramicroscopy 238 113538 (2022)

    4. 遠山慧子, 関岳人, 蟹谷裕也, 冨谷茂隆, 幾原雄一, 柴田直哉,
      「微分位相コントラストSTEMを用いたGaN/AlGaN/InGaNマルチヘテロ接合の局所電場観察」,
      電気学会論文誌C 142 367-372 (2022)

    5. S. Toyama, T. Seki, S. Anada, H. Sasaki, K. Yamamoto, Y. Ikuhara, N. Shibata,
      “Quantitative electric field mapping of a p–n junction by DPC STEM",
      Ultramicroscopy 216 113033 (2020)

    6. S. Toyama, T. Seki, H. Sasaki, Y. Ikuhara, N. Shibata,
      “Electric field quantification method for a p-n junction by DPC STEM”,
      AMTC Letters, 6 20 (2019)

    7. 遠山慧子, 関岳人, 佐々木宏和, 幾原雄一, 柴田直哉，
      「DPC STEMを用いた高分解能pn接合電場観察手法」,
      まてりあ, 57 102(2019)

    Conferences

    1. 遠山 慧子(招待講演)，「Direct observation of electric field in crystal interfaces by differential phase contrast STEM」，日本顕微鏡学会若手研究部会2022年度シンポジウム，2022年9月, oral

    2. S. Toyama, T. Seki, B. Feng, Y. Ikuhara, N. Shibata, “High resolution electric field mapping at crystal interfaces by tilt-scan averaged DPC STEM”, MRS Fall meeting, November 2022, oral

    3. 遠山慧子, 西川文子, 村上善樹, 関岳人, 熊本明仁, 幾原雄一, 柴田直哉, 「時間反転DPC 法によるCo 微粒子の磁場分布直接観察」，日本顕微鏡学会，2022年5月, oral

    4. 遠山慧子, 関岳人, 馮斌, 幾原雄一, 柴田直哉, 「微分位相コントラストSTEM を用いたYSZ 粒界スペースチャージ層の直接観察」，日本金属学会，2021年9月, oral

    5. 遠山慧子, 関岳人, 馮斌, 幾原雄一, 柴田直哉, 「DPC STEMを用いた酸化物粒界空間電荷層の直接観察」，日本顕微鏡学会，2021年6月, oral

    6. S. Toyama, T. Seki, Y. Kanitani, Y. Kudo, S. Tomiya, Y. Ikuhara, N. Shibata, “Quantitative electric field imaging in GaN-based heterostructures by DPC STEM”, The 17th European Microscopy Congress, September 2020

    7. 遠山慧子, 関岳人, 蟹谷裕也, 工藤喜弘, 冨谷茂隆, 幾原雄一, 柴田直哉, 「DPC STEMを用いたGaN系半導体ヘテロ界面の電場直接観察」，日本顕微鏡学会，2020年6月, oral

    8. S. Toyama, T. Seki, H. Sasaki, Y. Ikuhara, N. Shibata, “Quantitative electric field imaging of a p-n junction by DPC STEM”, Frontiers of Electron Microscopy and Materials Science, Asheville, September 2019, poster

    9. 遠山慧子, 関岳人, 蟹谷裕也, 工藤喜弘, 冨谷茂隆, 幾原雄一, 柴田直哉, 「DPC STEM を用いたGaN系半導体ヘテロ界面電場直接観察」，第80回応用物理学会秋季学術講演会，札幌，2019年9月, oral

    10. 遠山慧子, 「GaN系半導体内部の分極電場とキャリア」, 結晶界面研究会, 葉山, 2019年9月

    11. 遠山慧子, 関岳人, 蟹谷裕也, 工藤喜弘, 冨谷茂隆, 幾原雄一, 柴田直哉, 「DPC STEMを用いたGaN/AlGaN界面電場直接観察」，日本顕微鏡学会，名古屋，2019年6月, oral

    12. S. Toyama, T. Seki, H. Sasaki, Y. Ikuhara, N. Shibata, “Electric field quantification method for a p-n junction by DPC STEM”, The 6th International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations, Nagoya, June 2019, poster

    13. S. Toyama, T. Seki, H. Sasaki, Y. Ikuhara, N. Shibata, “Electric field quantification method for a p-n junction by DPC STEM”, 19th International Microscopy Congress, Sydney, September 2018, poster

    14. 遠山慧子, 「酸化物ヘテロ界面における二次元電子ガス発生機構」, 結晶界面研究会, 葉山, 2018年9月

    15. 遠山慧子, 関岳人, 佐々木宏和, 幾原雄一, 柴田直哉, 「DPC STEMを用いた高分解能電場定量化手法の開発」, 日本顕微鏡学会, 久留米, 2018年5月, oral

    Awards


    　
    1. 東京大学　工学系研究科長賞（研究最優秀）, 2023年3月

    2. 日本顕微鏡学会第64回シンポジウム　最優秀ポスター賞, 2021年11月

    3. 第19回結晶界面研究会　最優秀発表賞, 2019年9月

    4. 風戸研究奨励会国際会議発表助成, 2019年8月

    5. 第18回結晶界面研究会　優秀発表賞, 2018年9月

    6. 日本金属学会・日本鉄鋼協会 奨学賞, 2018年3月

    7. 東京大学　工学部長賞, 2018年3月