Kousuke Ooe




Yayoi 2-11-16, Bunkyo, Tokyo, Japan, 113-0032
Phone +81-3-5841-7689
Fax +81-3-5841-7694
mail: ooe[a]sigma.t.u-tokyo.ac.jp (please insert @ instead of [a])



Profile


Education

  • Mar. 2017 B.E., The University of Tokyo (Department of Materials Engineering, School of Engineering)
  • Mar. 2019 M.E., The University of Tokyo (Department of Materials Engineering, School of Engineering)

  • Oct. 2017~ MERIT (Materials Education program for the future leaders in Research, Industry, and Technology) course student
  • Apr. 2019~ Ph.D. course student in the University of Tokyo (Department of Materials Engineering, School of Engineering)

  • Professional experience

  • Apr. 2019~ Research Fellow, JSPS Research Fellowship for Young Scientists (DC1)


  • Research


    Low dose S/TEM imaging of beam-sensitive materials using a segmented/pixelated detector


    S/TEM phase-contrast imaging theory and development of novel techniques



    Achivements


    Peer review papers

    1. Kousuke Ooe, Takehito Seki, Yuichi Ikuhara, Naoya Shibata, submitted.
    2. Kousuke Ooe, Takehito Seki, Yuichi Ikuhara, Naoya Shibata, "High contrast STEM imaging for light elements by an annular segmented detector", Ultramicroscopy 202 (2019) 148-155.

    Conference proceedings

    1. Kousuke Ooe, Takehito Seki, Yuichi Ikuhara, Naoya Shibata, "Light Element Imaging Technique at Low Dose Condition by Processing Simultaneously Obtained STEM Images Using a Segmented Detector", Microscopy and Microanalysis 25(S2) (2019) 484-485.
    2. Kousuke Ooe, Takehito Seki, Yuichi Ikuhara, Naoya Shibata, "Low Dose STEM Imaging Technique for Light Element Atoms by Processing Images Simultaneously Obtained by a Segmented Detector", AMTC Letters 6 (2019) 26-27.

    International conference

    1. Kousuke Ooe, Takehito Seki, Yuichi Ikuhara, Naoya Shibata, "Light Element Imaging Technique at Low Dose Condition by Processing Simultaneously Obtained STEM Images Using a Segmented Detector", Microscopy & Microanalysis 2019, Portland, USA, August 8, 2019 (Oral).
    2. Kousuke Ooe, Takehito Seki, Yuichi Ikuhara, Naoya Shibata, "Low Dose STEM Imaging Technique for Light Element Atoms by Processing Images Simultaneously Obtained by a Segmented Detector", AMTC6, Nagoya, Japan, June 14, 2019 (Poster).
    3. Kousuke Ooe, Takehito Seki, Yuichi Ikuhara, Naoya Shibata, "Low Dose STEM Imaging for Light Element Atoms by Optimized Frequency Filtering", International Workshop of Ultra High-Resolution on Microscopy 2019, Saitama, Japan, February 23, 2019 (Poster).
    4. Kousuke Ooe, Takehito Seki, Yuichi Ikuhara, Naoya Shibata, "High Contrast Annular STEM Imaging for Light Elements by a Segmented Detector", The 14th TU-SNU-UT Student Workshop, Beijing, China, October 10, 2018 (Oral).
    5. Kousuke Ooe, Takehito Seki, Yuichi Ikuhara, Naoya Shibata, "High Contrast Annular STEM Imaging for Light Elements by a Segmented Detector", International Microscopy Congress19 (IMC19), Sydney, Australia, September 10, 2018 (Poster).

    Domestic conference

    1. 大江耕介,関岳人,幾原雄一,柴田直哉「超⾼感度STEM実時間結像法の開発による電⼦線敏感材料の低ドーズ観察」,顕微鏡学会第76回学術講演会,2020年5月(紙上開催)
    2. 大江耕介,関岳人,幾原雄一,柴田直哉「低電子線損傷条件におけるLIB材料中リチウム原子直接観察法の開発」,第60回電池討論会,京都,2019年11月(口頭)
    3. 大江耕介,関岳人,幾原雄一,柴田直哉「走査透過型電子顕微鏡による低ドーズ軽元素原子直接観察法の開発」,綜合画像研究支援(IIRS)創立十五周年記念シンポジウム,東京,2019年11月(ポスター)
    4. 大江耕介,関岳人,幾原雄一,柴田直哉「軽元素原子の低ドーズSTEM直接観察法の開発」,新学術領域研究「機能コアの材料科学」第1回若手の会,静岡,2019年9月(ポスター)
    5. 大江耕介,関岳人,幾原雄一,柴田直哉「軽元素原子の低ドーズ実時間STEM観察法の開発」,顕微鏡学会第75回学術講演会,名古屋,2019年6月(口頭)
    6. 大江耕介,関岳人,幾原雄一,柴田直哉「空間周波数フィルタを用いた高コントラストSTEM軽元素結像法」顕微鏡学会第74回学術講演会,久留米,2018年5月(口頭)
    7. 大江耕介「分割型STEM検出器を利用した高コントラスト軽元素結像法の開発」,Core-to-Core学生講演会,東工大,2017年12月(ポスター)
    8. 大江耕介,関岳人,Nathan R. Lugg,石川亮,幾原雄一,柴田直哉「分割型STEM検出器を用いた高コントラスト軽元素原子結像法の開発」,ナノ構造情報のフロンティア開拓―材料科学の新展開第5回若手の会,東京,2017年7月(ポスター)
    9. 大江耕介,関岳人,Nathan R. Lugg,石川亮,幾原雄一,柴田直哉「分割型STEM検出器を用いた高コントラスト軽元素原子結像法の開発」,顕微鏡学会第73回学術講演会,札幌,2017年5月(口頭)

    Awards

    1. 第19回結晶界面工学研究会,優秀発表賞,2019年9月10日
    2. M&M Student Scholar Award, 2019年8月5日
    3. 第18回結晶界面工学研究会,優秀発表賞,2018年9月1日
    4. 2018年度風戸研究奨励会国際会議発表渡航助成
    5. 第17回結晶界面工学研究会,優秀発表賞,2017年9月2日

    Patents

    1. 特願2019-203552「走査型透過電子顕微鏡による観察方法、走査型透過電子顕微鏡システム及びプログラム」